检测窗口 直径：8mm 或3mm（选配） 激发源 微型X射线管 金靶，50kV/40uA 大值 ；银靶，用于选配充氦装置，可分析轻元素 探测器 Si-PIN探测器；SDD探测器；自动电子制冷系统 显示器 角度0～90度可调的高亮度VGA彩色触摸屏 系统电子元件 533 MHz ARM 11 CPU，300 MHz DSP数字信号处理器、80 MHz ASICS DSP数字信号处理器，4096多道分析器、32Mb/128Mb用户内存 外型尺寸 95.5（W）×24。




分辨率：1.2nm @15kv，2.2nm @1kv（非样品台偏压模式） 放大倍数：10X—1000000X，连续可调 加速电压：20v-30kv，连续可调 样品台移动范围：X=Y=120mm，Z=50mm 能谱探测器：SDD硅漂移电制冷探测器 能量分辨率：MnKa优于127eV 元素分析范围：Be4—Cf98。
[1] 主要功能编辑 播报采用ET二次电子探测器、In-Iens二次电子探测器、HDBSD背散射探测器和能谱探测器分别对信号进行检测、放大、成像，用于各种微观形貌及成分分析。




X射线是一种波长较短的电磁辐射，通常是指能量范围在0.1~100keV的光子。
X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。
X射线荧光是由物质中的组成元素产生的特征辐射。
当高能电子束照射样品（靶材）时，EDX-9000Bplus矿石分析仪，入射高能电子被样品中的电子减速，这种带点粒子的负的加速度会产生宽带的连续X射线谱，简称为连续谱和韧致辐射。
然后化学元素受到连续X射线谱的照射，内层电子被激发，驱逐一个内层电子形成空穴，原子处于不稳定状态。




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