材质必须均匀。你的待测元素不均匀的话，多的地方和少的地方差别会较大。因为XRF光谱仪入射光线一般较窄，直径1-5微米，也就是说照射到样品的区域会很小，所以不均匀样品检测会不准确，当然主要也是看不均匀程度。
你的交错规律排列指的什么？如果是一层高分子，一层无机物，在一层高分子一层无机物，并且每层的厚度一定（比如层高分子都是10微米厚）。这样的可以在一定程度上看成是均匀的，但是用X荧光光谱仪测量还是有问题，因为X荧光透过不同物质有厚（某元素的X荧光透射不出来的厚度，原因是自吸收）的问题。
1. 铅（Pb） 使用该物质的例子：焊料、玻璃、PVC稳定剂
2. （Hg）（）使用该物质的例子：温控器、传感器、开关和继电器、灯泡
3. 镉（Cd ） 使用该物质的例子：开关、弹簧、连接器、外壳和PCB、触头、电池
4. 六价铬（Cr 6 ） 使用该物质的例子：金属防腐蚀涂层
5. （PBBS） 使用该物质的例子：阻燃剂，PCB、连接器、塑料外壳
6. 多二苯醚（PBDE） 使用该物质的例子：阻燃剂，PCB、连接器、塑料外壳
光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，CS995型红外碳硫分析仪，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量。它符合郎珀-比尔定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I为透射光强度，I0为发射光强度，T为透射比，L为光通过原子化器光程由于L是不变值所以A=KC。物理原理任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成的。
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