相邻元素的Kα谱线完全分开， 结构上没有分光系统， Si-PIN半导体传感器安装位置邻近样品， 检测灵敏度高， 所以XRF光谱ROHS分析仪Compassionately00成为了RoHS重金属检测的仪器。

由于Ro HS检测涉及成千上万种产品， 基体材料种类繁杂， 有单一材质， 也有金属合金、复合镀层、陶瓷玻璃以及PE、PVC、ABS等塑料类， 目前国内外在检测方法方面没有形成一致性的结论， 因此可以采用一种或几种分析仪器对其中的有害物质进行测试。其中能量色散X射线荧光光谱仪可直接使用固体标准物质进行校准。

由于原子的能级很多，原子在被激发后，CS995型红外碳硫分析仪，其外层电子可有不同的跃迁，但这些跃迁应遵循一定的规则(即“光谱选律”)，因此对特定元素的原子可产生一系列不同波长的特征光谱线，这些谱线按一定的顺序排列，并保持一定的强度比例。光谱分析就是从识别这些元素的特征光谱来鉴别元素的存在(定性分析)，而这些光谱线的强度又与试样中该元素的含量有关，因此又可利用这些谱线的强度来测定元素的含量(定量分析)。




电子跃迁到较高能级以后处于激发态，但激发态电子是不稳定的，大约经过10^-8秒以后，激发态电子将返回基态或其它较低能级，并将电子跃迁时所吸收的能量以光的形式释放出去，这个过程称原子发射光谱。可见原子吸收光谱过程吸收辐射能量，而原子发射光谱过程则释放辐射能量。 [2] 发射光谱分析的过程 语音1．把试样在能量的作用下蒸发、原子化(转变成气态原子)，并使气态原子的外层电子激发至高能态。




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