光谱分析仪的分析原理是将光源辐射出的待测元素的特征光谱通过样品的蒸汽中待测元素的基态原子所吸收，由发射光谱被减弱的程度，进而求得样品中待测元素的含量。它符合郎珀-比尔定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I为透射光强度，I0为发射光强度，T为透射比，L为光通过原子化器光程由于L是不变值所以A=KC。物理原理任何元素的原子都是由原子核和绕核运动的电子组成的。




射线管发射具有高能量的粒子束照射样品， 当其能量大于样品原子中某一轨道电子的结合能时， 便可将该轨道的电子逐出， 形成空穴， 即时外层电子跃向空穴， 电子轨道层的能量差将以特征X射线荧光逸出原子， 其能量差与原子序数相对应， 以此能谱的峰位和净强度进行定性和定量分析。依据RoHS检测中元素的特点以及大量实际检测经验， 能量色散X射线荧光光谱仪因其激发源采用较大功率的Rh靶来产生特征X射线激发样品原子中K层L层谱线， 可降低背景

这类标物目前有欧盟研制的用于塑料样品X射线荧光分析的， 代号JSAC0651-55， 圆片状， 规格为4*40 mm;用于塑料样品X射线荧光分析的铅、镉、铬、， 代号JSAC0631-32， 圆片状， 规格为4*40mm;还有我国研制的RoHS检测X射线荧光分析用ABS中的铅、镉、铬、， 代号GBW (E) 08， 圆片状， 规格为4*40 mm;Ro HS检测X荧光分析用PVC中的铅、镉、铬、， 代号GBW (E) 08， 圆片状， 规格为4*40 mm。

Compass500能量色散ROHS分析仪在快速无损、 现场ROHS筛选分析方法中， 具有不可取代的地位。 无论是从硬件方面还是软件方面，CS995型红外碳硫分析仪， 特别是近几年， 随着微电子技术、 计算机技术、 核技术和材料科学技术的发展， X射线光谱现场ROHS分析仪在以下几方面将得到进一步的发展。

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