⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。


英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

XRF镀层测厚仪工作原理

镀层测厚仪EDX8000B是将X射线照射在样品上，ESI，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。

膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪

Simply The Best

>微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。

>硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

>高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

苏州英飞思科学-天津ESI由苏州英飞思科学仪器有限公司提供。“光谱仪，合金分析仪，矿石分析仪”选择苏州英飞思科学仪器有限公司，公司位于：苏州工业园区唯新路69号一能科技园2号楼407室，多年来，英飞思科学坚持为客户提供好的服务，联系人：张经理。欢迎广大新老客户来电，来函，亲临指导，洽谈业务。英飞思科学期待成为您的长期合作伙伴！